芯片測試座的主要目的是保證器件在惡劣的環(huán)境條件下驗證IC是否能完成設計所預期的工作或功能。將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產品的質量與可靠性。

 芯片測試座用于驗證IC是否能完成設計所預期的工作或功能。功能測試是數(shù)字電路測試的根本，它模擬IC的實際工作狀態(tài)，輸入一系列有序或隨機組合的測試圖形，以電路規(guī)定的速率作用于被測器件，再在電路輸出端檢測輸出信號是否與預期圖形數(shù)據(jù)相符，以此判別電路功能是否正常。其關注的重點是圖形產生的速率、邊沿定時控制、輸入/輸出控制及屏蔽選擇等。

測試座探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層，接觸可靠而不會損壞錫球。高精度的定位槽或導向孔，保證IC定位精確，生產效率高,探針可以更換，維修方便，成本低。

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